IIE – XIV Congreso de Ciencias Exactas

Panel de Egresados

Ponencia IIE: Machine Learning y modelación estadística para la Identificación de fallas en procesos de manufactura, tres aplicaciones

Los sistemas de producción actuales muestran grandes niveles de complejidad. Aunado a la complejidad mostrada, la detección de fallas en estos procesos productivos se ha vuelto más complicada y laboriosa. Por otro lado, en sistemas tradicionales de producción, la detección de fallas se realiza mediante una simple inspección visual sobre las Cartas de Control Estadístico por parte de los operarios, así generando problemas de ambigüedad y confusión en la toma de decisiones respecto al tipo de falla existente. Para solucionar
dichos problemas de complejidad de detección y ambigüedad, en investigaciones recientes se ha propuesto la aplicación de algoritmos de Machine Learning.

En esta conferencia se mostrarán tres problemas donde se han aplicado algoritmos de Machine Learning para la identificación de fallas en procesos monitoreados mediante Cartas de Control (procesos discretos y continuos) y en procesos altamente eficientes; es decir, procesos que muestran un bajo nivel de fallas. Se mostrará la relación entre los tres esquemas de automatización desarrollados, la forma
en la que los esquemas de automatización de detección de fallas fueron mejorados mediante el uso de modelos estadísticos y Metaheurísticas, e ideas generales sobre investigación que se está desarrollando en la unidad CIMAT Aguascalientes sobre estos temas.

Ponencia IIE: El pensamiento estadístico como valor agregado en las organizaciones

Ante los cambios originados por el avance tecnológico y el contexto social que impera a nivel mundial, todas las organizaciones se han visto en la necesidad de contar con capital humano. Ante los cambios originados por el avance tecnológico y el contexto social que impera a nivel mundial, todas las organizaciones se han visto en la necesidad de contar con capital humano capaz de analizar e interpretar de
forma eficiente los datos provenientes de las operaciones y procesos de la organización.

Las tendencias actuales como la Inteligencia Artificial y el Big Data requieren de un sólido manejo de conceptos estadísticos. En esta platica se destacará la importancia que tiene el desarrollar el pensamiento estadístico para el análisis de cualquier problemática y los beneficios que cualquier organización puede alcanzar al contar con personal capacitado en el correcto uso de herramientas estadística para una toma de decisiones más acertada.

Ponencia IEE: Diversidad de Industrias en México

Hacer ver la basta diversidad de industrias en México, la expansión laboral que se puede tener con la carrera de ingeniería y las áreas de oportunidad.

Ponencia IIE: Lean Six Sigma: Retos en la implementación

Ponencia IIE: Estrategia Lean & Six Sigma en Flex Aguascalientes

Los Objetivos de la conferencia es compartir la estrategia de mejora continua Flex Aguascalientes usando Lean & Six Sigma como herramientas de entrenamiento y desarrollo de proyectos.

Ponencia IIE: Investigación, Ciencia y Movilidad – Formación Extracurricular en la U.A.A

Ponencia IIE: Experiencias durante y después de egresar como Ingeniero Industrial Estadístico

La conferencia girará en torno al aprendizaje como estudiante de la carrera de Ingeniero Industrial Estadístico, así como las experiencias durante mi estancia académica en el extranjero. Con el fin de expresar a los alumnos la importancia del conocimiento estadístico en la vida laboral y los beneficios que trae consigo estudiar fuera del país.